主要原因有:

　　1：各廠家設(shè)計的光學(xué)，電學(xué)(主要指探測器)參數(shù)不同，探測器組中各個探測點空間位置和數(shù)量不同，其探測到的顆粒信息不同，所以不同位置探測的信息相差很大，可達若干個數(shù)量級。特別是對于非球形顆粒，其信息在三維空間上的變化差異很大。

　　2：顆粒分析的算法不同，這也是一個主要原因。打個簡單比喻，1+1=2，但2=?+?，就有無窮多種解法，在實際的測試中，各個粒徑的信號是復(fù)合的(矢量合)。要根據(jù)有限點陣的探測器上的顆粒信號，準確解析出實際的顆粒分布是一個難點。由于不同探測器的信號相差非常大，而且信息中還夾雜很多干擾成分，要保證在有干擾的情況下分析數(shù)據(jù)達到偏差小，標準物質(zhì)重復(fù)性誤差在允許范圍之內(nèi)，儀器內(nèi)部安裝結(jié)構(gòu)也尤為重要。